国产频谱分析仪-国产网络分析仪-上海坚融实业有限公司

基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱：美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY6487皮安表測(cè)試軟件程序

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-03-10

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY6487皮安表測(cè)試軟件程序功能介紹
1.電流測(cè)量：可設(shè)置輸出電壓，電流量程，電流限制，零點(diǎn)校正，測(cè)量速度，采集間隔，采集時(shí)長(zhǎng)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示。
2.電阻測(cè)量：可設(shè)置輸出電壓，電阻量程，電流限制，采集間隔，采集時(shí)長(zhǎng)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示。
3.IV掃描：可設(shè)置起始終止電壓、步進(jìn)（階梯電壓），掃描點(diǎn)間隔時(shí)間，可循環(huán)多次掃描。

產(chǎn)品特性Product characteristics

     專業(yè)儀器設(shè)備和測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由前安捷倫Agilent【現(xiàn) 是德KEYSIGHT】產(chǎn)品技術(shù)支持工程師——堅(jiān) JET 和 吉時(shí)利KEITHLEY【現(xiàn) 泰克Tektronix】忠實(shí)用戶使用工程師——融 YOO于2012年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*電子測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前測(cè)試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY6487皮安表測(cè)試軟件程序，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

堅(jiān)融公司潛心研究十年，KEITHLEY6487皮安表應(yīng)用領(lǐng)域：

碳納米管
半導(dǎo)體納米線
碳納米管 FET
納米傳感器和陣列
單電子晶體管
分子電子
有機(jī)電子
基本運(yùn)放電路
二極管和電路
晶體管電路
雙極結(jié)型晶體管設(shè)計(jì)
結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管設(shè)計(jì)
太陽(yáng)能電池和 LED 設(shè)計(jì)
高電子遷移率晶體管設(shè)計(jì)
復(fù)合半導(dǎo)體器件設(shè)計(jì)

分析納米材料和實(shí)驗(yàn)器件
碳納米管的電測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
測(cè)量碳納米管電氣特性
提高納米電子和分子電子器件的低電流測(cè)量
在低功率和低壓應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確、可靠的電阻測(cè)量
納米級(jí)器件和材料的電氣測(cè)量
提高超高電阻和電阻率測(cè)量的可重復(fù)性
一種微分電導(dǎo)的改進(jìn)測(cè)量方法
納米技術(shù)準(zhǔn)確電氣測(cè)量的技術(shù)
納米級(jí)材料的電氣測(cè)量
降低外部誤差源影響的儀器技術(shù)
迎接65nm節(jié)點(diǎn)的測(cè)量挑戰(zhàn)
測(cè)量半導(dǎo)體材料的高電阻率和霍爾電壓
用微微微安量程測(cè)量電流
柵極電介質(zhì)電容電壓特性分析
評(píng)估氧化層的可靠性
用低噪聲美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY4200-SCS進(jìn)行超低電流測(cè)量
4探針電阻率和霍爾電壓測(cè)量

波束監(jiān)測(cè)與放射監(jiān)測(cè)
絕緣體、開關(guān)、繼電器和其他元件的漏流測(cè)試
SEM波束電流測(cè)量
光電子器件測(cè)試與特征分析
光纖校準(zhǔn)
DCLF電路中的電路測(cè)試與分析
傳感器特征分析
半導(dǎo)體等器件的I-V測(cè)量
納米電子器件特征分析
教學(xué)實(shí)驗(yàn)

測(cè)量二極管
晶體管
運(yùn)放
有源器件
新的半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和試驗(yàn)低電阻、低功耗半導(dǎo)體器
輸出極低電流和測(cè)量極低電壓分析現(xiàn)代材料、半導(dǎo)體和納米電子元件的電阻
低阻測(cè)量(低至10nΩ)分析導(dǎo)通電阻參數(shù)、互連和低功率半導(dǎo)體。
用于*進(jìn)CMOS技術(shù)的脈沖可靠性測(cè)試
高K柵極電介質(zhì)電荷俘獲行為的脈沖特性分析
用6線歐姆測(cè)量技術(shù)進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的電阻測(cè)量

序：
皮安表只能簡(jiǎn)單測(cè)微小電流值，而我們公司開發(fā)的皮安表測(cè)試軟件程序，應(yīng)用算法將測(cè)量的值換算成您需要的數(shù)據(jù)和曲線圖，您的皮安表配上該軟件，僅需一套軟件，相當(dāng)于您增加了幾臺(tái)儀器測(cè)試功能。這皮安表+軟件廣泛應(yīng)用于全國(guó)幾十所高校、研究所，大大幫助和提升了教授們做科研實(shí)驗(yàn)，寫論文報(bào)告。

       中科院上海應(yīng)用物理研究所，中科院大連物理化學(xué)研究所，上海科技大學(xué)，南方科技大學(xué)，北京大學(xué)，清華大學(xué)，北京理工大學(xué)，北京師范大學(xué)，北京航空航天大學(xué)，北京郵電大學(xué)，華東師范大學(xué)，東華大學(xué)，華東理工大學(xué)，上海交通大學(xué)，復(fù)旦大學(xué)，上海大學(xué)，同濟(jì)大學(xué)，上海理工大學(xué)，南開大學(xué)，天津大學(xué)，河北工業(yè)大學(xué)，重慶大學(xué)，西南大學(xué)，太原理工大學(xué)，內(nèi)蒙古大學(xué)，大連理工大學(xué)，東北大學(xué)，吉林大學(xué)，東北師范大學(xué)，哈爾濱工業(yè)大學(xué)，哈爾濱工程大學(xué)，南京大學(xué)，蘇州大學(xué)，江南大學(xué)，南京航空航天大學(xué)，東南大學(xué)，南京師范大學(xué)，南京理工大學(xué)，浙江大學(xué)，中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)，合肥工業(yè)大學(xué)，安徽大學(xué)，廈門大學(xué)，福州大學(xué)，南昌大學(xué)，山東大學(xué)，中國(guó)海洋大學(xué)，鄭州大學(xué)，武漢大學(xué)，武漢理工大學(xué)，華中師范大學(xué)，華中科技大學(xué)，湖南大學(xué)，中南大學(xué)，中山大學(xué)，華南理工大學(xué)，華南師范大學(xué)，廣西大學(xué)，桂林理工大學(xué)，桂林電子科技大學(xué)，四川大學(xué)，電子科技大學(xué)，西北大學(xué)，西北工業(yè)大學(xué)，西安電子科技大學(xué)，西安交通大學(xué)，蘭州大學(xué)都有在選用我們公司的皮安表測(cè)試軟件程序系統(tǒng)。

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY皮安表測(cè)試軟件程序
1.軟件為中文界面，操作簡(jiǎn)便
2.可設(shè)置零點(diǎn)校正。
3.可設(shè)置測(cè)量量程（自動(dòng)，20mA，2mA，200uA等）。
4.可調(diào)節(jié)測(cè)量速度(快速、中速、慢速)。
5.自定義采樣間隔。
6.數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示和保存，可由Excel直接打開，也可導(dǎo)入Origin中作進(jìn)一步分析。
可根據(jù)客戶要求進(jìn)行修改定制。

美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY6487皮安表測(cè)試軟件程序功能介紹
1.電流測(cè)量：可設(shè)置輸出電壓，電流量程，電流限制，零點(diǎn)校正，測(cè)量速度，采集間隔，采集時(shí)長(zhǎng)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示。
2.電阻測(cè)量：可設(shè)置輸出電壓，電阻量程，電流限制，采集間隔，采集時(shí)長(zhǎng)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示。
3.IV掃描：可設(shè)置起始終止電壓、步進(jìn)（階梯電壓），掃描點(diǎn)間隔時(shí)間，可循環(huán)多次掃描。
圖形實(shí)時(shí)顯示，數(shù)據(jù)自動(dòng)保存，傻瓜式操作，免安裝，解壓縮后即使用，支持WinXP，Win7,Win8,Win10。
數(shù)據(jù)直接記事本、Excel打開，也可導(dǎo)入Origin內(nèi)進(jìn)行分析。