技術(shù)文章您當(dāng)前的位置：首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 直流電源輸出不能CV,CC恒壓恒流怎么辦？
直流電源輸出不能CV,CC恒壓恒流怎么辦？
日期：2015-03-06瀏覽：3654次
關(guān)于穩(wěn)壓直流電源的CV,CC恒壓恒流模式
直流電源輸出不能CV,CC恒壓恒流怎么辦？
當(dāng)前所有的電源只能分開(kāi)實(shí)現(xiàn)恒壓（即CV），或者恒流(CC)，但不能同時(shí)實(shí)現(xiàn)輸出恒壓恒流（CC,CV功能不能同時(shí)選擇）。
電源接上被測(cè)物（即帶載）后，是會(huì)產(chǎn)生一定的電壓電流損耗的（也就是我們常說(shuō)的產(chǎn)生壓降），接上SENSE端可以補(bǔ)償電壓輸出時(shí)線路上損耗的電壓，測(cè)試前是要考慮到帶負(fù)載和不帶負(fù)載的管壓降的，電源輸出如何設(shè)置依據(jù)用戶(hù)測(cè)試要求/標(biāo)準(zhǔn)來(lái)的。測(cè)試電壓和電流要以帶負(fù)載時(shí)的電壓和電流為準(zhǔn)，接負(fù)載后再去調(diào)電源輸出是不合理的。
一般我們測(cè)試都是需要恒壓為主，根據(jù)歐姆定律U=IR，由于被測(cè)物（即負(fù)載）產(chǎn)品的電阻都是稍微不同的，所以恒壓的時(shí)候，電流是允許有一點(diǎn)變動(dòng)的。
產(chǎn)品分類(lèi)
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車(chē)充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 紅外熱像儀
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 美國(guó)BK PRECISION
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車(chē)電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
聯(lián)系我們
在線客服：
版權(quán)所有：上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司 滬ICP備12024467號(hào)-2
傳真： 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)
公司地址：上海市閔行區(qū)聯(lián)明路555號(hào)
上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司主營(yíng)產(chǎn)品:吉時(shí)利KEITHLEY源表,吉時(shí)利KEITHLEY高阻表,是德KEYSIGHT高阻表,DESCO靜電電阻測(cè)試儀
