產(chǎn)品中心
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 紅外熱像儀
- 美國(guó)BK PRECISION
- 梅特勒METTLER
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
15000330092
在線客服免費(fèi)解答
產(chǎn)品中心您當(dāng)前的位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心
-
LAP-C322000孕龍ZEROPLUS總線協(xié)議測(cè)試分析儀
-
IoT低功耗物聯(lián)網(wǎng)測(cè)試方案
-
德國(guó)Kleinwachter EFM-022-CPS靜電場(chǎng)測(cè)試儀
-
納米/超導(dǎo)材料/霍爾微電阻測(cè)試方案
-
KEITHLEY2400美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY源表
-
大功率可編程直流電源負(fù)載充放電測(cè)試方案
-
6517B美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY高阻表
-
KEYSIGHT是德B2985A絕緣材料體積電阻率測(cè)試
-
MOSFET，CMOS，IGBT半導(dǎo)體I-V，C-V特性曲線
版權(quán)所有：上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司 滬ICP備12024467號(hào)-2
傳真： 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng)
公司地址：上海市閔行區(qū)聯(lián)明路555號(hào)
上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司主營(yíng)產(chǎn)品:吉時(shí)利KEITHLEY源表,吉時(shí)利KEITHLEY高阻表,是德KEYSIGHT高阻表,DESCO靜電電阻測(cè)試儀
